三箱式冷熱（溫度）沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品型號(hào)：DE-TS-S450
更新時(shí)間：2022-08-24
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：DE-TS-S系列三箱式冷熱（溫度）沖擊試驗(yàn)箱適用于設(shè)備零部件、汽車(chē)配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關(guān)行業(yè)*的檢測(cè)設(shè)備
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詳細(xì)介紹

DE-TS-S系列三箱式冷熱（溫度）沖擊試驗(yàn)箱

一、概述
三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱屬于大型的試驗(yàn)設(shè)備，結(jié)合溫度、濕度、振動(dòng)功能于一體，適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诰C合的惡劣環(huán)境下檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)，其尺寸可根據(jù)客戶(hù)試驗(yàn)品的大小要求定制。

二、三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法

*GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

*GB/2423.13-2002溫度沖擊試驗(yàn)

*GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

*GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件規(guī)格

*GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 低溫試驗(yàn)法

*GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

*GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)法

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DE-TS-S系列三箱式冷熱（溫度）沖擊試驗(yàn)箱適用于設(shè)備零部件、汽車(chē)配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關(guān)行業(yè)*的檢測(cè)設(shè)備，可用于測(cè)試材料或元器件在瞬間的高溫或極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選（溫度循環(huán)）、高/低溫環(huán)境適應(yīng)性和可靠性試驗(yàn)，對(duì)各種大型電工電子產(chǎn)品用于發(fā)現(xiàn)早期故障、模擬實(shí)際溫度與快溫變環(huán)境和考核產(chǎn)品耐受溫度的能力。

三、三箱式冷熱（溫度）沖擊試驗(yàn)箱（三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱）技術(shù)參數(shù)

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